Innovatív berendezéssel gazdagodik a TTK
Az ELTE Természettudományi Karán, a Központi Kutató és Műszer Centrum (TTK KKMC) keretein belül mintegy három éve működik a részben uniós forrásból beszerzett pásztázó elektronmikroszkóp. A SEM/FIB laboratórium 2013. szeptember 2-án kötött együttműködési megállapodást a Technoorg Linda Kft.-vel: a szerződés szerint a labor a cég 65 000 eurós berendezéséhez fejleszt protokollokat.
A pásztázó elektronmikroszkópos laboratóriumban az ország legjobb felbontású EBSD (visszaszórt elektrondiffrakciós) felvételeit készítik. A Technoorg Linda Kft. és a laboratórium szerződése szerint a SEM/FIB labor térítésmentesen hozzájut a kisvállalkozás új fejlesztésű, 65 000 euró értékű berendezéséhez. Az argon-ionos felület megmunkálást lehetővé tevő SemPrep SC-1000 műszeren a TTK-s kutatók EBSD-protokollokat készítenek, a próbamérések során tapasztaltakat a cég a berendezés továbbfejlesztéséhez használja. A megállapodás előnyeiből a TTK hallgatói is részesülnek, hiszen egyedülálló, innovatív prototípuson dolgozhatnak a lágymányosi alagsorban.
Az elektronmikroszkóp világszínvonalat képvisel, felszereltsége és mérési lehetőségei alapján Európában is a legjobbak közé tartozik. A FEI Quanta 3D típusú, nagyfelbontású, kétsugaras – vagyis az elektronforráson (SEM) kívül ionforrással (FIB) is rendelkező – készüléket széles skálán használják a kutatók: szubmikronos és nanotartománybeli fizikai, kémiai, biológiai, anyagtudományi, geológiai, régészeti és interdiszciplináris kutatások zajlanak. Az elektronnyaláb és az ionnyaláb egyaránt alkalmas arra, hogy mikroszkópi képet készíthessenek, ugyanakkor az ionnyaláb az anyagminta felületének megmunkálását is lehetővé teszi.
Az 1990-ben, spin-off cégként alapított Technoorg Linda Kft. a világpiacon vezető, hazai kisvállalkozás: eszközeik a legtöbb félvezetőgyártó vállalat eszköztárában megtalálhatók. A KFKI fizikus kutatói által alapított cég fő profilja a fémes és nemfémes minták argon-ionsugaras megmunkálását lehetővé tevő készülékek fejlesztése és gyártása. A cég legújabb fejlesztése nagypontosságú ionos felületpolírozást tesz lehetővé: ilyen nagysimaságú felületek szükségesek például a pásztázó elektronmikroszkópokban a visszaszórt elektrondiffrakciós (EBSD) mérésekhez, amelyekkel a minták szemcseszerkezetét, a szemcsék orientációját lehet térképezni – ehhez az eszközhöz jut hozzá a SEM/FIB laboratórium.
Korábban a pásztázó elektronmikroszkópos kutatásokról: